SJT 10588.6-1994 DB-422型电子玻璃技术数据
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ID： |
FD4876F4F9604614B5CB0A2DE775BEAE |
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文件大小(MB)： |
0.22 |
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页数： |
2 |
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文件格式： |
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日期： |
2024-7-28 |
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中华人民共和国电子行业标准,db-422型电子玻璃技术数据,SJ/T 10588.6—94,Technical data of type DB-422 electronic glass,1 主题内容与适用范兒,本标准规定了 DB-422型电子玻璃的化学组成和理化性能指标,本标准适用于彩色显像管玻锥所用玻璃材料,2引用标准,GB 9000,GB 9622,GB/T 14012,电子玻璃化学分析标准方法,电子玻璃理化特性试验方法,餐白显像管玻壳总规范いシ,3技术要求,3.I 化学组成见表1,表1,化学组成值丒百分比,%,■,检验方法,SiO2 50. 30±1.00 GB 9000. 2,AIQ3 4. 00±0.15 GB 9000* 7,CaO 3. 80± 0.15,GB 9000.11,MgO 2. 55± 0.15,23. 50±0.15 xCjjRd yQvAvAvAe Ra,k2o 8. 00±0.15 . QAAA 1 A,Na2O 6. 70±0.15,IxvUv* X v,Sb203 COe 10 GB 9000.12,Fe2O3 &〇. 05 GB 9000.14 マ,3.2 理化性能指标见表2,中华人民共和国电子工业部1994-08-08批准1994-12-01 实施,序号,1,2,3,4,5,6,7,指标名称,SJ/T 1058&6—94,单位检验方法,30.300c范围内的平均线热膨胀系数a 1/C (100<5±1.0)X10-7 GB 9622. 2,密度g/cm3 3.010±〇. 015 GB 9622.1,软化点668 ± 5 GB 9622. 4,退火点490± 5,应变点,GB 9622. 5,450士5,350c时的体积电阻率Igp GB 9622. 81),X射线吸收系数(0. 06nm,20e 6KeV) 1/cm >62.0,GB/T 14012,第4. 5. 4条,表2,C,C,指 标,注，D其中第4. 5.4. 6条合并按如下规定进行:测量从起点,在300c保温lOmin,开始测量,继续升高炉,温度,每升高10C进行一次测量.直到390c结束测量ユ,附加说明:,本标准由电子工业部标准化硏究所归口,本标准由河南安阳彩色显像管玻壳有限公司、电子工业部标准化研究所负责起草,本标准主要起草人:李新庆、赵从辉、刘承钧,H……
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